Las pruebas «hardware-in-the-loop» ponen de manifiesto defectos en la regulación de los sistemas de almacenamiento de energía por batería (BESS) que suelen pasar desapercibidos en las simulaciones habituales y en los controles de fábrica. Esta guía describe los conceptos de CHIL y PHIL, el modelado en tiempo real, el «fault shot», los requisitos de homologación y las opciones del sistema.